引领PXI技术创新 - NI第十二届 “中国PXI技术和应用论坛”在京举行

2015-06-04 22:00:18 未知

由美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）主办的第十二届“中国PXI技术和应用论坛” （PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC）北京站会议圆满闭幕。在今年的PXI TAC会议上，NI展示了PXI最新的技术发展以及应用案例，推出了业界首款基于PCle第三代技术的PXI嵌入式控制器和高带宽PXI机箱，大幅推动了PXI技术的进步和PXI在高性能应用场合中的广泛应用。

NI始终致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战，在本次PXI TAC会议上，NI详细介绍了基于Intel Xeon处理器的NI PXIe-8880控制器和业界首款采用第三代PCI Express技术的NI PXIe-1085机箱。NI PXI平台和仪器研发副总裁Robert Canik表示：“未来的自动化测试和控制将会更加复杂、要求更快速度和更高品质。在这种背景下，PXI平台凭借其灵活、开放的特性，加之NI的图形化编程软件LabVIEW的相辅相成，使其在测试测量领域占据绝对领先优势。全新的18槽机箱采用了第三代PCI Express技术，每个插槽配备8条通道，以匹配24 GB/s的系统总带宽，从而使任何测试和测量系统都能够轻松满足未来需求。”
面对爆发式无线技术的增长，PXI技术和应用论坛北京站活动还设立了射频应用专题讨论。专题以PXI 射频平台为核心，介绍了无线领域前沿技术与最新应用。同时北京站还开设了动手课程，现场的与会者有机会亲手参与构建基于PXI技术的完整自动化测试系统，并完成自定义测量任务，参与者在实践中可亲身体会到PXI技术的优势与便利。除北京站以外，2015 PXI技术和应用论坛还将陆续在广州、西安、上海举行。专题讨论将覆盖射频应用、消费电子、国防与航空航天、汽车电子四个专业领域。

今年是PXI技术发展的第十八个年头。自从1997年NI推出业界第一款PXI机箱开始，NI就一直是PXI技术的创新者和领导者，18年来NI一如既往地追求卓越，不断在测试测量领域进行创新和持续投入。在中国，伴随着2015年PXI TAC在北京站的成功举办，PXI技术平台将进一步被测试测量界的工程师所接受，PXI技术也帮助中国的客户成功面对了各类应用挑战。相信NI所提供的开放式的PXI平台在未来仍将帮助工程师与科学家们加速新兴应用的实现。

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