一台仪器就可以实现不同测量条件的高速检测要求

即将发售的阻抗分析仪IM3570是测量频率4Hz~5MHz，测试电平5mV~5V 的LCR电桥与阻抗分析仪合二为一的仪器。因为对应不同测量条件都能高速连续测量，所以在需要使用众多仪器检查的生产线上，仅IM3570一台便可实现。

压 电元件的共振特性的测量
通过频率扫频测量共振频率和当时的阻抗值，利用比较功能判别是否合格。另外，通过连续测量的功能，1KHz的 C值测量（LCR电桥）和频率扫频测量都能在这一台仪器上实现。

功能高分子电容等的C-D值和低ESR测量
能够连续测量功能性高分 子电容的C-D值以及低ESR（100kHz）
与之前的产品（3522-50,3532-50）相比，低阻抗测量时的绝对精度和反复精度都提升了 1位。

电感（线圈、变压器）的DCR和L-Q测量
连续测量L-Q（1kHz，CC1mA）和DCR，能在同一画面上显示数值。
通 过扫频测量，能够用图表来显示频率特性和电平特性。

阻抗分析仪IM3570的介绍

推荐用于生产线中的特点和功能
 按 照不同测量条件进行连续测量
根据测量对象，1台仪器可连续测量必须的多种测量条件。例如：可进行DCR（直流电阻）和L-Q的连续测量、以及C- D（120Hz）和ESR（100kHz）的连续测量。
 通过高速测量加快检查速度
缩短测量时间、实现最快2ms（1kHz）、 1ms（100kHz）。和日置以往产品（代表值5ms）相比，大幅提高了速度，从而有利于增加检查数量。
 和以往产品相比，反复精度提高了1 位
和以往产品相比，将低阻抗测量时、高频测量时的反复精度提高了1位。在提高了测量值的可信度的同时，可缩小设置生产线的判断标准的幅度。
 具 备接触检查功能
利用4端子测量（仅低阻抗高精度模式时）、2端子测量的接触检查功能，可防止测量电极为接触被测物的情况下测量。
 测量 线可延长至4m
利用4端子的结构减小测量线的影响，以测量线长0/1/2/4m来保证精度。便于自动机的接线。
 可在内部发生DC偏压
仅 主机可外加并测量最大2.5V的DC偏压。可安心测量钽电容等有极性的电容。
 DC~5MHz可使用的4端子探头
4端子探头 L2000（选件）采用有利于特性阻抗50Ω和提高测量精度的4端子构造，是最适合于IM3570的探头。