在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 12828|回复: 5

如何做高温老化测试?

[复制链接]
发表于 2009-7-10 15:50:36 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
最近公司打算对一批芯片做老化试验,使用的高温箱,温度为125℃,时间是168小时,条件是让IC有动作就好。虽然做完了老化,也没有问题,但是我对于这样得到的结果感到不是很有把握,不知道有人做个这个IC老化方面的试验没?一般怎样确定IC的工作条件,还有就是对于测试时间有什么规范不?
 楼主| 发表于 2009-7-11 08:36:24 | 显示全部楼层
[转]高温老化试验(htol)的目标是为了加速芯片老化,在较短的时间里模拟出芯片在整个生命周期的可靠性。它是一种long term burn in.测试时间取决于芯片的预期寿命,复杂度,以及HTOL温度,电压等条件。一般有168,504, 1008小时。这方面有规范的要求。Mil Std883, Method 1005 Specs 和 JEDEC JESD22-A108.
外面有专门提供htol服务的实验室,最好和他们联系一下,宜硕,尉华科技等等
网址:http://www.eequestion.com/questi ... B%E8%AF%95%EF%BC%9F
看到别人做出的回答,之前去宜硕参加过研讨会,会上提到了高温老化的问题,不过因为时间很有限,宜硕的人也只是大概提了一下,只是讲了讲多长时间相当于多久的寿命,还有个浴缸曲线,至于如何具体的测试都没有讲,就知道宜硕可以做高温老化试验。
头像被屏蔽
发表于 2009-7-16 20:51:10 | 显示全部楼层
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
发表于 2009-8-4 14:11:50 | 显示全部楼层
Usually, burn in is to make sure the reliability of IC.
If some particles in FAB process, high temperature and IC working would make this fail happen more early.
发表于 2009-8-9 22:20:50 | 显示全部楼层
还有一个很重要的条件就是所以的管脚都要偏置或工作在最高电压下。



原帖由 remond 于 2009-7-10 15:50 发表
最近公司打算对一批芯片做老化试验,使用的高温箱,温度为125℃,时间是168小时,条件是让IC有动作就好。虽然做完了老化,也没有问题,但是我对于这样得到的结果感到不是很有把握,不知道有人做个这个IC老化方面的试 ...

发表于 2012-2-22 17:06:03 | 显示全部楼层
问:HTOL是high temperature operation life, 老化不是burn-in吗?还是说这个两个意思是一样的?弱弱的问一句!
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-12-23 15:39 , Processed in 0.020923 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表